關(guān)于遺傳性耳聾基因檢測(cè)（微陣列芯片）項(xiàng)目報(bào)告變動(dòng)通知
2018-10-15 閱讀數(shù)：3023
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由于試劑及儀器更換，故自2018年10月15日起送檢的遺傳性耳聾基因檢測(cè)（微陣列芯片）項(xiàng)目的基因位點(diǎn)、報(bào)告時(shí)間及報(bào)告單模板有所變動(dòng)，具體說(shuō)明如下：
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項(xiàng)目 |
變更內(nèi)容 |
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變更前 |
變更后 |
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遺傳性耳聾基因檢測(cè) |
4個(gè)基因20個(gè)位點(diǎn) |
6個(gè)基因24個(gè)位點(diǎn) |
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3-5個(gè)工作日 |
5-7個(gè)工作日 |
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報(bào)告模板見(jiàn)附件1 |
報(bào)告模板見(jiàn)附件2 |
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如給您造成不便之處，敬請(qǐng)諒解！感謝您給予的大力配合！如有疑問(wèn)或其它要求請(qǐng)撥打客服免費(fèi)咨詢電話：400-888-1223，我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)！
廣州華銀醫(yī)學(xué)檢驗(yàn)中心
二〇一八年十月十五日
